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電離層閃爍指數預報



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電離層閃爍指數預報圖

電離層閃爍指數預報產品是利用由國立中央大學太空科學與工程學系(DSSE, NCU)電離層電波科學實驗室(IRSL)科研團隊所開發的經驗模式進行預報,該模式利用臺灣福衛三號多年來所累積的電離層閃爍指數觀測,以多項式函數回歸並參數化後建構出具參考性的經驗模式。模式可以透過輸入日期時間和太陽輻射參數(F10.7)的預測數值後,提供未來3天(72小時)的逐時全球電離層閃爍指數預報產品。

目前提供的3種產品,分別為臺灣未來三日的逐時閃爍指數預報、全球與東亞範圍的閃爍指數預報和閃爍指數超過特定門檻值(0.2、0.5和0.8)的發生率預報。

當電離層中的電漿結構中出現不規則體,而產生密度分布不均勻的情況時,容易導致無線電波訊號在穿透電離層時產生偏折,使得電波訊號的強度出現衰減或強弱不定的現象,因此稱之為電離層閃爍現象。嚴重的閃爍現象會讓電波訊號無法順利被接收,造成衛星資料在傳輸過程中缺漏部分內容,或是讓導航系統無法鎖定衛星訊號,使定位結果出現偏差,甚至是無法定位;輕度到中度的閃爍現象也可能會造成通訊干擾,或降低定位結果的準確性和可信度。

由於訊號閃爍程度與無線電波的頻率有關,以衛星定位常用的頻率範圍而言,當閃爍指數大於0.2的時候,就表示電波訊號可能會受到干擾,並隨著閃爍指數的數值升高而增加被影響的程度,因此可透過電離層閃爍指數的高低和分布來評估訊號通過電離層時受到影響的可能程度。

資料來源為中央氣象署。歷史產品與數據資料庫尚未建立,如有需求請來信詢問

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